suns-Voc測(cè)試儀

suns-Voc測(cè)試儀:利用Suns-Voc進(jìn)行漿料與燒結(jié)技術(shù)優(yōu)化，主要測(cè)試IV曲線

如何利用Suns-Voc進(jìn)行漿料與燒結(jié)技術(shù)優(yōu)化

少子壽命，PN結(jié)的好壞，表面及體內(nèi)的復(fù)合情況,材料質(zhì)量、鈍化效果等" b3 X _6 K$ b1 u" ~- I. E1 V; A
Life time,Pseudo-EFF, Pseudo-Voc, Pseudo-FF, Ideality factor

對(duì)比該曲線與最后測(cè)定的I至V曲線，可以準(zhǔn)確測(cè)量出電池的串聯(lián)電阻。

Suns-Voc系統(tǒng)特征

·晶元測(cè)定的溫控為25°C

·電壓探針的高精準(zhǔn)度

·兼容磁性探針

·配備全套濃度補(bǔ)正濾色片的疝氣燈

·后支柱可調(diào)節(jié)高度，準(zhǔn)確調(diào)節(jié)亮度

·適用標(biāo)準(zhǔn)I至V曲線圖及Suns-Voc曲線圖

·不受串聯(lián)電阻的影響，測(cè)定晶片特征