少子壽命測量儀BCT-400
BCT-400測量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命.
因?yàn)樯僮訅勖鳛楹饬可L和缺陷含量的的較敏感的技術(shù)參數(shù)，這個工具直接獲得長硅的質(zhì)量參數(shù)。
作為較易于使用的測量工具--BLS，只需要有直徑150mm大小的平面。如果只是測量平面樣品的話，請選擇BCT-400。
產(chǎn)品簡述：
1.用途（高頻光電導(dǎo)）
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊
體形無嚴(yán)格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體
內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項(xiàng)目。
2.設(shè)備組成
2.1光脈沖發(fā)生裝置
重復(fù)頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關(guān)斷時間＜1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長的光源
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