標準磁探試片M1型
M1型試片用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏片），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。
規(guī)格：φ12（7/50）、φ9（15/50）、φ6（30/50）。2片/套。
標準磁探試片D1型
D1型試片用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。
規(guī)格：15/50、7/50、30/50三種規(guī)格，適用于有曲率的探傷面，6片/套。
尺寸：10×10mm，厚度為50μm。
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